仪器设备名称及型号：透射电镜JEM-2010
产地及厂家：日本电子
购买日期：2005

一、技术参数：
加速电压：200kv    线分辨率：0.14nm    点分辨率：0.2nm

二、功能/应用范围：
材料显微结构分析，明场像  暗场像  选区电子衍射  高分辨晶格像  EDS。
三、主要附件：
EDS  能谱  （Link ISIS）